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Keysight WaferPro Xpress 2020.1 补丁激活教程

  • 软件大小:未知
  • 更新日期:2020-09-30
  • 官方网站:https://www.keysight.com/
  • 软件等级:★★★☆☆
  • 运行环境:Winxp/Win7/Win8/Win10
Keysight WaferPro Xpress 2020.1 补丁激活教程
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WaferPro2020破解版是一款测试自动化软件,与主要的半导体铸造厂合作设计。 它是满足实际客户表征需求的解决方案,因为它允许您创建自定义的测试算法,以满足表征和建模测量要求。用于半导体器件和组件的晶圆级测量,高效管理晶圆级测量系统!它是为设备建模和表征工程师设计的,具有直观的设置和自动测量管理自动化,实时数据监控,数据显示。使用Python和PEL编程进行自定义测量和分析。支持使用A-LFNA进行噪声测量。包括数十个交互式驱动程序和标准测试。PathWave WaferPro与Keysight EEsof设备建模产品完全集成。在IC-CAP环境中开发的测试可以轻松地在PathWave WaferPro中执行,而使用PathWave WaferPro测量的数据可以轻松地加载到IC-CAP,模型构建器程序(MBP)和模型质量保证(MQA)中。最新破解版下载,含破解文件,有需要的朋友不要错过了!

安装激活教程

1、在本站下载并解压,如图所示

2、双击waferproxp_2020_update1.0_win_x64.exe安装程序,勾选我接受许可证协议

3、选择软件安装路径以及其他相关内容安装位置

4、安装完成,关闭许可证设置向导窗口

5、将EEsof_License_Tools文件夹复制到安装目录中,默认路径为C:\Program Files\Keysight\EEsof_License_Tools,点击替换目标中的文件

6、以管理员身份运行安装目录下\ bin \ win32_64 \ server_install.bat(默认情况下C:\Program Files\Keysight\EEsof_License_Tools\bin\win32_64\server_install.bat)
然后等待新服务安装并启动

7、运行“ Keysight_Licensing.reg”并确认将信息添加到Windows注册表中

8、将WAFERPROXP_2020_Update1文件夹复制到安装目录中,默认路径C:\Keysight\WAFERPROXP_2020_Update1。点击替换目标中的文件

9、重新启动计算机,在程序启动时,从可用软件包列表中选择一个可用许可证软件包。

软件特色

1、在半自动和全自动探针器上跨温度进行全自动测量
2、在执行测量过程中实时监视(通过或失败条件),监视位置,状态,结果和数据
3、设备表定义和管理
4、能够停止,暂停和继续测试计划
5、多种预定义的测试DC / CV / RF测量算法
6、宽带扫描和现场测试(Electrical Test(ET))测量,并将数据分别保存到.mdm或.csv文件
7、数据后处理和分析
8、能够在“模拟”模式下运行测试计划(测试计划验证)
9、使用单个项目来驱动不同的测试台

软件功能

1、加快开始首次测量:
适用于 CMOS、BJT 和其他主要技术的完整 DC、CV 和 RF 测试算法
50 多个完整的仪器驱动程序,适用于大多数常见仪器、接口和操作系统
晶圆级测量解决方案的系统设置和验证程序简单易用
2、简化设置自动化测试的日常任务:
现代化的直观用户界面,方便定义晶圆图和测试计划
独家整合到 Cascade Microtech 探头控制软件中
3、提高生产效率:
先进的数据显示和晶圆数据映射查看器
用于处理大量数据的 SQL 数据库
4、使用户能够解决复杂或常见的问题:
用于数据监测和后期处理以及仪器驱动程序实现的 Python/PEL 编程
可配置的开关矩阵驱动程序,支持各种探头卡和连接
5、晶圆级测量解决方案
WaferPro Express 是是德科技与 Cascade Microtech 合作开发的晶圆级测量解决方案(WMS)的关键组成部分。
所有 WMS 均由是德科技和 Cascade Microtech 进行验证,以便让用户尽快开始首次测量,并为用户提供精确、可重复的器件和元器件表征。
所有 WMS 均提供有保证的系统配置、安装和支持。
6、WaferPro 和 WaferPro Express 有什么区别?
IC-CAP WaferPro 适用于使用单一平台进行测量和建模或需要访问新测量管理系统(MMS)的用户,而新 MMS 为 IC-CAP WaferPro 所独有。IC-CAP WaferPro 提供极大的灵活性,可驱动是德科技参数测试仪,并包含可与建模共享使用的 IC-CAP 环境
WaferPro Express 适用于需要简单易用、经济高效的自动化晶圆上测量解决方案的用户

使用说明

在PathWave WaferPro上使用A-LFNA
是德科技高级低频噪声分析仪(A-LFNA)是一项许可功能,用于测量和分析随机电报噪声,高级RF和模拟信号的1 / f噪声以及对以下应用至关重要的片上系统(SOC)设备纳米技术,生物电和绿色技术的应用。它是一种硬件和软件解决方案。
本节概述了各种A-LFNA功能,并使您能够安装,配置和维护A-LFNA。此外,它还描述了特定于功能的过程以及与特定功能有关的所有配置过程,硬件概述以及在出厂之前针对A-LFNA及其相关模块进行测试的规范。
要访问A-LFNA包含模式(E4727P3),请选择WaferPro Express <Release>> A-LFNA <Release>。使用此选项,您可以控制A-LFNA硬件和WGFMU(B1530A)硬件。
要访问仅WGFMU模式(E4727E3),请选择WaferPro Express <Release>> A-LFNA <Release> WGFMU。此选项仅允许您控制WGFMU(B1530A)硬件。
使用两个不同的配置文件来更改硬件内容:
A-LFNA包含模式(E4727P3许可):<WAFERPROXP_2018安装目录> \ alfna \ config \ alfna.cfg
仅WGFMU模式(E4727E3许可):<WAFERPROXP_2018安装目录> \ alfna \ config \ alfnaEW.cfg
在具有E4727P3许可证的A-LFNA兼容模式下,有两种测量类型可用:
A-LFNA测量(使用A-LFNA硬件)
WGFMU测量(使用WGFMU硬件)
在具有E4727E3许可证的仅WGFMU模式下,仅一种测量类型可用:
WGFMU测量(使用WGFMU硬件)
A-LFNA根据公认的行业标准进行设计和测试,并在安全的状态下提供。您必须遵循记录在案的信息和警告,以确保安全操作和维护,以保持产品处于安全状态。

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